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PRODUCTS CNTER●采用線掃描方式檢測整面薄膜●硬件&軟件均為創新設計●作為專業膜厚測定廠商,提供多種支援●實現高精度測量(已獲取專zhuan利)●實現高速測量●不受偏差影響●可對應寬幅樣品(TD方向最大可測量10m)
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膜厚范圍 | 0.1~300 μm |
測量幅度 | 500 mm~最大10 m |
測定間隔 | 1 ms~ |
裝置大小(W×D×H) | 81×140×343 mm |
重量 | 4 kg(僅頭部) |
最大功耗 | AC100 V±10% 125VA |
500mm寬的包裝薄膜
上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續努力,不斷提升市場地位和影響力。
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