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當前位置:首頁產品中心光譜系統顯微缺陷膜厚線掃描膜厚儀(在線型)

線掃描膜厚儀(在線型)

產品簡介

●采用線掃描方式檢測整面薄膜

●硬件&軟件均為創新設計

●作為專業膜厚測定廠商,提供多種支援

●實現高精度測量(已獲取專zhuan利)

●實現高速測量

●不受偏差影響

●可對應寬幅樣品(TD方向最大可測量10m)

產品型號:
更新時間:2025-01-23
廠商性質:生產廠家
訪問量:450
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產品信息

特點

線掃描膜厚儀(在線型)

線掃描膜厚儀(在線型)

式樣

膜厚范圍0.1~300 μm
測量幅度500 mm~最大10 m
測定間隔1 ms~
裝置大小(W×D×H)81×140×343 mm
重量4 kg(僅頭部)
最大功耗AC100 V±10% 125VA

測量案例

500mm寬的包裝薄膜

線掃描膜厚儀(在線型)

線掃描膜厚儀(在線型)








上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續努力,不斷提升市場地位和影響力。

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