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產(chǎn)品中心

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當前位置：首頁產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚紫外分光配光測量系統(tǒng)

紫外分光配光測量系統(tǒng)

產(chǎn)品簡介

●通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量

●從配光上評估紫外光的最大發(fā)光強度、光束開度、光束光通量

●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍

●支持從 LED 芯片到模塊和應用產(chǎn)品的廣泛樣品

●用軟件批量控制電源和測量儀器

產(chǎn)品型號：
更新時間：2025-01-23
廠商性質：生產(chǎn)廠家
訪問量：334
詳細介紹在線留言

產(chǎn)品信息

評價項目

紫外線輻射強度或輻照度中的光分布角分布

最大光度、光束開度、光束光通量

輻射通量、輻射強度、輻照度

總光通量

光譜數(shù)據(jù)

根據(jù)配光測量系統(tǒng)的測量項目

總光通量、色度坐標xy、uv、u’v’相關色溫、Duv、主波長、刺激純度顯

色指數(shù)Ra、R1至R15

峰值波長、半值范圍

規(guī)格

紫外分光配光測量系統(tǒng)

* 1：測量期間安裝樣品的方向。
底座朝下：水平面安裝
底座側：垂直面 安裝
*2：配光測量的測量波長范圍為250～850nm
*3：可選產(chǎn)品請參考總光通量測量系統(tǒng)規(guī)格頁.

設備配置

GP-510U

紫外分光配光測量系統(tǒng)

桌面型設備。將 LED 芯片放置在水平面上并進行測量。
受光部一側為1軸，樣品側為1軸的驅動系統(tǒng)。
由于樣品可以放置在平坦的表面上，因此測量再現(xiàn)性和位置調(diào)整很容易。
適用于測量LED芯片等不易安裝的小樣品。

 

GP-500 / GP-1100

紫外分光配光測量系統(tǒng)

桌面型設備。這是一般配光裝置的光學系統(tǒng)。
受光部分與樣品部分高度相同，樣品側采用2軸驅動系統(tǒng)。
它可以處理從芯片類型到小模塊樣品的廣泛產(chǎn)品。

 

GP-2000

紫外分光配光測量系統(tǒng)

大型設備。安裝需要一個使用一個暗室的地方。
該設備用于測量大而重的光源，如泛光燈。

測量示例

UV-LED 測量結果

紫外分光配光測量系統(tǒng)

紫外分光配光測量系統(tǒng)

這是用光譜光分布測量 UV-LED 的結果。
根據(jù)輻射強度繪制配光曲線。
通過對光分布測量得到的每個θ處的光譜輻射強度
使用球面系數(shù)法，可以得到UV-LED發(fā)射的總光譜通量。


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