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當前位置:首頁產品中心光譜系統顯微缺陷膜厚高速LED光學特性儀 LE series

高速LED光學特性儀 LE series

產品簡介

●與產線的控制信號同步

●通過光纖的自由的測試系統

●實現最短2ms~的光譜測量(LE-5400)

●同以往的產品相比,測量演算評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機型

產品型號:
更新時間:2025-01-23
廠商性質:生產廠家
訪問量:549
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測量項目

三刺激值(kX, kY, kZ)*〔JIS Z 8724〕
色度坐標(u, v)〔CIE 1960UCS〕
色度坐標(x, y)〔JIS Z 8724〕
色度坐標(u’, v’)〔CIE 1976UCS〕
主波長(Dominant)和刺激純度(Purity)〔JIS Z 8701〕
相關色溫度和Duv〔JIS Z 8725〕
演色性評價數(Ra, R1~R15)〔JIS Z 8726〕
峰值(λmax)的波長、高度、半值幅
第二峰值的波長和高度
積分值(Summation)
重心波長
指zhi定波長的高度
相比峰值波長的短波長側、長波長側的積分值

 

*亮度(kY)的值,因測量的LED和檢出部的光學系不同,

只有在校準(距離、位置、方向)中有再現性時才算有效。

規格式樣


LE-Series
分光方式光柵分光 F=3 f=135 mm
感光元件CCD (電子制冷)
測量波長范圍380 ~ 960 nm300 ~ 800 nm330 ~ 1100 nm350 ~ 930 nm
波長精度1±0.3 nm2±0.3 nm2±0.5 nm2±0.3 nm2
光纖規格3長約2m,金屬包覆,固定口徑約12mm,
與LED間的距離通常為2 ~ 8mm左右(視LED指向性而不同)
功率最大100VA
尺寸280(H) × 296(D) × 160(W)mm
重量約10kg

※1波長校正用光源對汞物理輝線之確認值。
※2JIS Z 8724規格。
※3可變更光纖尺寸、長度

設備構成

高速LED光學特性儀 LE series


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