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當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚膜厚測(cè)量系統(tǒng) FE-3700/5700

膜厚測(cè)量系統(tǒng) FE-3700/5700

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

可以高速、高精度地測(cè)量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外,它還支持 LCD、TFT 和有機(jī) EL。

產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2025-01-23
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問量:348
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用法

LCD
ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass

TFT
SiN / a-Si / 玻璃

有機(jī)EL
有機(jī)EL / ITO / 玻璃

PDP
介電層/玻璃








上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,客戶遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。

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