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當前位置:首頁產品中心光譜系統顯微缺陷膜厚紫外分光全光譜光通量測量系統

紫外分光全光譜光通量測量系統

產品簡介

●具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍

●具有紫外線自吸收校正的高精度測量

●配備溫度控制單元,可從-110°C進行溫度控制

●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍

●電源、溫控單元、測量儀軟件批量控制

產品型號:
更新時間:2025-01-23
廠商性質:生產廠家
訪問量:294
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產品信息

評價項目

輻射通量、光譜輻射通量

殺菌效果*1

峰值波長,半高寬

基于總光通量測量系統的測量項目

總光通量、三刺激值XYZ、色度坐標xy、uv 、u’v’相關色溫、Duv、主波長、刺激純度顯色指數、等色標準偏差

光子量、外量子效率、發光效率* 根據紫外線輻射傷害作用函數計算

規格

紫外分光全光譜光通量測量系統

* 1:參考值。根據使用 220-850 nm 檢測器的 A 光源測量結果估算
* 2:參考值。從 250-400 nm 測量中估計的帶有 220-850 nm 檢測器的 A 光源
* 3:可作為選項支持的項目
* 4:對于可選產品,請參閱總光通量測量系統的規格頁面。

設備配置

基本配置

紫外分光全光譜光通量測量系統

探測器、光纖和積分球的配置,包括數據處理單元。
樣品的可選溫度控制溫度表征也是可能的。

測量示例

UV-LED 測量結果 (λp = 280nm)

這是測量深紫外 LED(峰值波長 280 nm)的示例。
通過使用高靈敏度檢測器,可以以良好的重現性測量峰值波長。
也可以在沒有噪聲成分的情況下評估波形。
此外,
還可以結合紫外線輻射損傷作用函數來計算LED 的殺菌效果。


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